光電測量系統 > 光學檢測
XT H 225 ST 2X 工業CT掃描
尼康集團Nikon 服務熱線：0086 28 85314499
XT H 系統可采用225kV電源，可選用旋轉目標，適合于各種應用，包括小鑄件檢測、塑料件及材料研究。
優點
可靈活地整合在單個系統中：X射線可用于快速目視檢測，CT可用于深入分析快速數據采集和高質量圖像
可利用交互式操縱桿導航功能進行快速操作高分辨率數字成像和處理嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統，無需任何特殊的預防措施或安全警示標志
可與行業標準后處理應用緊密集成
應用：
評估和測量精密塑料件和小鑄件、復雜機構、內部零件、部件與CAD比較等
故障檢測和失效分析
裝配問題的故障診斷排除
先進材料研究和生物結構的分析
模型的數字化歸檔
